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TESCOM的天線耦合器使用注意事項

  通常，天線耦合器需要在屏蔽盒中進行測試，以阻止任何雜散或噪聲。為了提高測試可靠性，有幾個注意事項。

1.首先要考慮的是屏蔽盒中產(chǎn)生的反射或散射RF信號。即使屏蔽盒或屏蔽室內(nèi)部吸收大部分RF信號，但仍有大量散射和反射的RF信號仍保留在屏蔽盒中。這可能會影響測試結(jié)果，具體取決于DUT和天線耦合器的位置。

2.其次，散射和反射的RF信號可以改變DUT的調(diào)制特性。由于芯片的隔離性能差，這些不需要的信號可以通過DUT的天線或蓋子返回到RF芯片。它可能會改變載波頻率并導致不希望的調(diào)制。

3.考慮因素應該是天線的特性從盒子中不需要的RF信號的變化。通常，使用窄帶的DUT天線需要高Q值。具有窄帶的天線的輸入阻抗對于小屏蔽盒中的天線耦合器的位置高度敏感，因為天線耦合器可以與DUT的天線產(chǎn)生RF耦合。

  TESCOM的天線耦合器可以在TESCOM的屏蔽盒中測量DUT的近場波，而無需使用任何物理RF連接器。可用于當前和未來的通信技術，如GSM，WCDMA，WiMAX，LTE，GNSS，藍牙，Wi-Fi，其頻率范圍從80 MHz到6 GHz; 因此，也可以用于多頻帶DUT。特別是，TESCOM的天線耦合器非常適合GO / NOGO測試方法。
主要特點
1.支持80 MHz至6000 MHz的寬頻率范圍
2.適用于測試2G，3G和4G網(wǎng)絡設備
3.適用于測試GPS / GLONSAS，藍牙，Wi-Fi，WiMAX，LTE網(wǎng)絡設備
4.執(zhí)行有效且穩(wěn)定的RF耦合
5.使用TESCOM的Shield Box和Fixture優(yōu)化RF測試環(huán)境
應該使用天線耦合器的原因
  RF傳導測試通常廣泛用于DUT的RF測試。這種當前的方式需要物理RF連接，這可能會產(chǎn)生一些問題。首先，通常在不了解天線特性的情況下測試物理RF連接的方式。在大多數(shù)情況下，很難對多頻帶或?qū)拵炀€進行的阻抗匹配。對于每個頻帶，天線的增益可能變化很大。這不能提供可靠的測試結(jié)果，特別是對于多頻帶或?qū)拵炀€。其次，用于物理RF連接的連接器和電纜具有自己的RF特性，例如VSWR，這也會影響測試結(jié)果。第三，磨損或損壞的RF連接器可能影響測試結(jié)果。此外，物理RF連接測試要求它們經(jīng)常被修復。這會降低工廠的生產(chǎn)率。使用天線耦合器的非物理連接測試是上述所有問題的解決方案。

  考慮到測試目的，天線耦合器的特性，DUT的尺寸和形狀，將選擇天線耦合器以形成優(yōu)化的測試環(huán)境。通常，較大的天線耦合器具有比較小的天線耦合器稍好的性能，但它也需要更大的屏蔽盒。例如，盡管TESCOM的等角螺旋天線耦合器TC-93060A和TC-93061A具有較小的耦合損耗并且與DUT的位置無關，但由于其對反射RF的敏感性，它們需要大屏蔽盒。信號。TESCOM提供各種類型的天線耦合器，固定裝置和屏蔽盒，以便根據(jù)客戶的需求優(yōu)化測試環(huán)境。